日本日置 SM7420高阻计

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产品特点
实现4ch测量
电子元件生产中，为了提高产量，有时需要并列同时测量多通道，SM7420继承了之前机型DSM-8542的优点，可以进行4ch的绝缘测量。
※用于测量的电源需要另外准备。
检查速度是以往机型的2倍，缩短了检查时间。
最快检查时间是6.7ms（0.0067秒），和以往机型的检查速度相比提高了1倍。由于缩短了检查时间，因此生产效率也会提升。
通过改善测量的再现性和抗干扰性，提高生产效率
和以往机型相比，测量的再现性和抗干扰性有大幅提升。在同一条件下进行反复测量时，测量值的变化程度降低为通常测量时的1/60。而且，混入50V干扰时，最小能达到1/300，降低了变化幅度。
这样，通过增强测量的稳定性，从而提高检查的效率。

日本日置 高阻计 SM7420主要用途
电子元件（层陶瓷电容器、共模滤波器和SAW滤波器等）的性能评估

日本日置 高阻计 SM7420开发背景
随着智能手机、可穿戴设备、混动电动汽车（HV/HEV）等的普及，叠层陶瓷电容器、共模滤波器和SAW滤波器等电子元件市场也进一步扩大。在生产过程中需要测量这类电子元件的绝缘电阻值，并对其性能进行评估。
对于进行批量生产的厂家，如何大量并迅速的进行测量变得尤为重要。而且，由于汽车中所用的电容等元件都朝着高耐压方向发展，在掌握其性能时就会需要测量高压输出的绝缘电阻。 HIOKI为了满足此类生产厂家需求，着力开发了是以往产品的2倍测量速度的测量仪器。

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